顱內高壓是繼發性腦損傷的一個主要原因，其程度和持續時間已被證明與存活率、永久性功能障礙的程度有關，特別是當顱內體積—壓力曲線達到臨界點時，只要顱內體積發生少許變化，顱內壓就會急劇增高，加重腦移位與腦疝，發生中樞衰竭危象。因此臨床顱內壓（Intracranial pressure, ICP）的動態監測就比較重要，是預防和控制顱內高壓、確定治療方案的基礎，同時也為臨床提供了一種客觀衡量成功治療的依據。到目前為止，各種臨床上的顱內壓監護方法與設備基本上都是有創的，這些有創性的測量方法和設備一般都較精確，但無一例外地是有創操作、使用麻煩且存在受感染的危險，需要專業人員解釋臨床數據，監護時間不能太長，費用昂貴等缺陷。因此，顱內壓無創監測分析方法及設備為臨床顱內壓監測提供了一個比較好的選擇。
      近幾年市場上為了彌補顱內壓有創監護的不足出現的顱內壓無創檢測設備均是使用單一方法，其通過找到某個檢測量的變化與顱內壓力變化的對應關系來間接實現顱內壓力的無創檢測。  據國內外相關文獻報道顱內壓無創檢測方法有10余種之多，然而每一種顱內壓無創檢測方法都有一定的適用范圍，而且顱內壓力的變化是由不同因素引起的綜合表征，僅通過一個或幾個量要實現顱內壓的準確檢測是非常困難的。按照美國醫療儀器促進協會(AAMI)的規定，ICP監測儀器應該能在0-100mmHg范圍內連續輸出，精確度在0-20mmHg范圍內為±2mmHg；對于 20mmHg 以上的ICP，誤差為10%，而現有的大多數方法都遠遠落后于AAMI標準。因此，雖然顱內壓無創檢測技術的研究已有相當長的時間，且有一些方法已被證明是有臨床使用價值的，但真正符合臨床應用要求的ICP無創監測方法和設備的研究仍處在需要不斷提高和完善的階段，如何找到一個兼具足夠精度和可操作性的方法是實現臨床顱內壓無創檢測的基礎。
     針對基于單一顱內壓無創檢測方法的顱內壓無創檢測分析儀的不足，我們在同一儀器平臺上綜合應用不同的顱內壓無創檢測方法，通過融合不同顱內壓無創檢測的參數來綜合判斷患者顱內壓的變化情況，實現顱內壓的無創檢測和分析，提高顱內壓無創檢測精度和臨床適用性。

通過對顱內壓無創檢測方法持續深入的研究，我們利用先進的軟件技術、信號處理技術和建模技術，在同一儀器平臺上融合了多種顱內壓無創檢測原理，新申請/獲權了1項美國發明專利、11項國內專利，在高等教育出版社出版了一本專門研究顱內壓無創檢測方法的著作，研制成功JYH_ICP型顱內壓無創綜合檢測分析儀，實現顱內壓無創綜合檢測和分析，提升了產品性能，具有較高的檢測精度和臨床適用性。

該產品獲得了重慶市高新技術產品及國家重點新產品稱號，成為高新企業！